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光刻设备・液晶面板测定器・硬化设备

分光反射率计 「URE-30」(光刻设备・液晶面板)

除了平面外、还可瞬间测量±R50mm的曲面分光反射率(紫外~近红外区域)。 极精简,可通过USHIO独特的测量部,测量过去无法测量的大型产品实品。

  • 特征
  • 主要用途
  • 产品目录下载
  • 1台双功能

    可应用为分光放射照度计。可测量大型产品实物。
    通过USHIO独特的测量部,测量过去无法测量的大型产品实品。
    光学研磨的玻璃,尤其适合集光镜、平面镜、及镜头等光学零件。


  • 精简的测量部

    测量部是可携式的精简类型,可于光学零件所在处进行测量。
    此外,测量部的位置亦可自由变换,并可评估反射率的不匀。


  • 瞬间得到测量结果

    测量波长范围有二种版本(280~800nm/300~1000nm),可瞬间测量。
    测量数据可利用Excel处理与保管。


多层膜蒸着集光镜




附AR膜的镜片


・多层膜蒸着集光镜的分光反射率测量
・附AR膜的镜片之分光反射率测量
・分光穿透率测量等

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  • 华东: 15026450271(崔)
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